翻訳と辞書 Words near each other ・ IEC 61131-3 ・ IEC 61508 ・ IEC 62278 ・ IEC 80000-13 ・ IED ・ IEDA ・ IEE ・ IEEE ・ IEEE 1003 ・ IEEE 1076 ・ IEEE 1149.1 ・ IEEE 1275 ・ IEEE 1284 ・ IEEE 1364 ・ IEEE 1394 ・ IEEE 1394a ・ IEEE 1394b ・ IEEE 1471 ・ IEEE 1541-2002 ・ IEEE 1800 Dictionary Lists mini英和辞書 mini和英辞書 Webster 1913 Latin-English FOLDOC Wikipedia English ウィキペディア

翻訳と辞書　辞書検索 [ 開発暫定版 ] スポンサード リンク IEEE 1149.1 （ リダイレクト：JTAG ） ： ウィキペディア日本語版 JTAG[じぇいたぐ] JTAG（ジェイタグ、Joint Test Action Group）は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。本来はこの検査方式を定めた業界団体（Joint European Test Action Group）の名称の略。当初JETAGであったがEuropeanが抜けJTAGとなった。 == 概要 == 半導体技術の進歩により集積回路チップのピン間隔も狭くなりプローブを立てての検査が困難になってきている。表面実装のBGAなどのパッケージに至っては、物理的に不可能である。そのため検査時に、チップ内部の回路を数珠繋ぎにし、内部状態を順番に読み出すしくみ（）が考え出された。これをバウンダリスキャンテスト（boundary scan test）といい、それを規格化したのがJTAGである。1990年にIEEE 1149.1として標準化されている。 近年、検査目的だけではなく、組み込みシステムのソフトウェアのデバッグなどの目的で、ICEの一種として、CPUやFPGAにアクセスする手段としてJTAGが用いられるようになってきている。その場合、本来のICEの機能であるリアルタイム性の観測は、再現できない場合もある。 抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア（Wikipedia）』 ■ウィキペディアで「JTAG」の詳細全文を読む 英語版ウィキペディアに対照対訳語「 Joint Test Action Group 」があります。 スポンサード リンク 翻訳と辞書 : 翻訳のためのインターネットリソース Copyright(C) kotoba.ne.jp 1997-2016. All Rights Reserved.